介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是表征電介質(zhì)材料性能的關(guān)鍵物理參數(shù)，對于金屬氧化物、工程板材、陶瓷材料（包括陶器和瓷器）、云母絕緣材料、特種玻璃以及各類塑料等高分子材料都具有重要意義。通過精確測定這些參數(shù)，可以深入分析材料組成、微觀結(jié)構(gòu)及外界環(huán)境條件對介電性能的影響機制，從而為優(yōu)化材料配方、改進制備工藝以及開發(fā)高性能電介質(zhì)材料提供重要的理論依據(jù)和實驗基礎(chǔ)。這一研究在電子元器件、電力設(shè)備、通信技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價值。

介質(zhì)損耗測試儀是一種用于精確測量材料介電性能的專業(yè)儀器，主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

1.科研機構(gòu)——用于新型電介質(zhì)材料的性能分析與理論研究，為材料科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新提供實驗依據(jù)；

2.高等院?！鳛榻虒W(xué)與科研的重要設(shè)備，支撐材料學(xué)、物理學(xué)、電子工程等學(xué)科的實驗研究；

3.工業(yè)企業(yè)——用于無機非金屬材料（如陶瓷、玻璃、高分子復(fù)合材料等）的質(zhì)量控制與性能優(yōu)化，指導(dǎo)產(chǎn)品開發(fā)與工藝改進。

該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價值，為新型功能材料的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化提供關(guān)鍵測試手段。

介質(zhì)損耗測試儀參考標(biāo)準(zhǔn)

u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法；

u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法。

技術(shù)參數(shù)